1、研制背景

X-射線衍射分析法目前已廣泛應(yīng)用于物相的定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力測(cè)定等方面。在不同溫度下測(cè)試的樣品物相可能會(huì)發(fā)生變化，原位X-射線衍射高低溫樣品臺(tái)可以為樣品提供良好的變溫測(cè)試條件，從而滿足樣品在不同溫度下的測(cè)試需求。

2、產(chǎn)品介紹

文天精策儀器科技（蘇州）有限公司開發(fā)的原位X-射線衍射高低溫樣品臺(tái)（下文簡稱XRD冷熱臺(tái)），產(chǎn)品系統(tǒng)主體包含XRD冷熱臺(tái)、位移樣品架、溫度控制系統(tǒng)、供氣或真空系統(tǒng)和循環(huán)冷卻系統(tǒng)。

XRD冷熱臺(tái)現(xiàn)有兩款產(chǎn)品，可以實(shí)現(xiàn)的溫度控制范圍分別為：-190°C~600°C，RT~1200°C，在空氣、惰性氣體或真空的環(huán)境條件，與常見的X-射線衍射儀配套使用。XRD冷熱臺(tái)適合各種類型的樣品在高低溫下進(jìn)行X-射線結(jié)構(gòu)研究，多種樣品架可配合反射和透射模式，支持在現(xiàn)有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學(xué)等）上改造適配。

3、系統(tǒng)參數(shù)

4、系統(tǒng)特色

(1)      衍射角0-164°

(2)      真空腔室（10^-3 mbar）

(3)      負(fù)溫下吹氣除霜管路

(4)      可增加試樣溫度監(jiān)測(cè)

(5)      可適配衍射儀定制樣品架

(6)      多種樣品架實(shí)現(xiàn)反射和透射

(7)      溫控精度高，可編程階梯控溫

(8)      電熱、液氮可實(shí)現(xiàn)快速升降溫

(9)      溫控范圍寬（-190~600℃ / RT~1200℃）

(10)  中低溫產(chǎn)品采用銀質(zhì)冷熱傳導(dǎo)，均溫性好

(11)  高溫產(chǎn)品采用陶瓷加熱片，溫度傳感器靠近樣品，精準(zhǔn)測(cè)量樣品溫度

5、相關(guān)案例（變溫X-射線衍射測(cè)試）

（1）X-射線衍射儀：賽默飛（Thermo Scientific）

粉末樣品填充

粉末樣品變溫測(cè)試

（2）X-射線衍射儀：理學(xué)（Rigaku）

鈦合金原位升降溫測(cè)試